T_CIE 198—2023 柔性半导体集成电路可靠性试验规范-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CIE 198—2023
中文标题  柔性半导体集成电路可靠性试验规范
英文标题  
国际标准分类号  31.200
中国标准分类号  
国民经济分类  M732 工程和技术研究和试验发展
发布日期  2023年12月29日
实施日期  2023年12月29日
起草人  冯雪、陈颖、汪照贤、宋欣、吴桐吴、王显、屈哲、闫宇、李海波、范惠东、黄晓宗、杨超、廖希异、杨晓峰、何志峰、赵建明、徐文龙、牟映璇。
起草单位  清华大学、浙江清华柔性电子技术研究院、浙江荷清柔性电子技术有限公司、杭州柔谷科技有限公司、浙江智柔科技有限公司、浙江清华长三角研究院、中国电科芯片技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、钱塘科技创新中心、中国计量大学、电子科技大学。
范围  
主要技术内容  本文件规定了柔性半导体集成电路可靠性试验的一般要求、检验批、质量评定、抽样要求、鉴定试验、质量一致性试验、筛选试验相关内容。
本文件适用于柔性半导体集成电路可靠性的评价、认证与考核。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国电子学会
登记证号社证字第4079号发证机关中华人民共和国民政部
业务范围学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务
法定代表人/负责人陈英
依托单位名称中华人民共和国工业和信息化部
通讯地址北京市玉渊潭南路普惠南里13号邮编 : 100036

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