T_CNIA 0287—2025 半导体洁净室 空气分子污染物(AMC)掺杂剂B和P测定 电感耦合等离子体质谱法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CNIA 0287—2025
中文标题  半导体洁净室 空气分子污染物(AMC)掺杂剂B和P测定 电感耦合等离子体质谱法
英文标题  
国际标准分类号  13.040.30 工作场所空气
中国标准分类号  
国民经济分类  C419 其他未列明制造业
发布日期  2025年02月24日
实施日期  2025年07月01日
起草人  邓春星、张雪囡、由佰玲、李春阳、贾琳蔚、朱晓彤、张园园、徐俊俊、孔令群、吴倩、王春明、冯天、薛心禄、刘国霞、张锦梅、徐新华、顾广安、杨玉聪
起草单位  TCL中环新能源科技股份有限公司、四川永祥能源科技有限公司、山东有研半导体材料有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、中环领先半导体科技股份有限公司、上海新昇半导体科技有限公司、青海芯测科技有限公司、新特能源股份有限公司、青岛盛瀚色谱技术有限公司、杭州中欣晶圆半导体股份有限公司、上海晶盟硅材料有限公司、江苏环鑫半导体有限公司
范围  
主要技术内容  本文件描述了电感耦合等离子体质谱法测定半导体洁净室空气分子污染物(AMC)中掺杂剂B和P的方法。
本文件适用于半导体洁净室空气分子污染物(AMC)中掺杂剂B和P的测定。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国有色金属工业协会
登记证号51100000500013318F发证机关中华人民共和国民政部
业务范围行业自律、信息交流、业务培训、科技开发、国际合作与交流、咨询服务
法定代表人/负责人贾明星
依托单位名称
通讯地址北京市海淀区复兴路乙12号邮编 : 100814

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