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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CS 012—2024 |
| 中文标题 | 晶圆测试探针台 |
| 英文标题 | Wafer test probe station |
| 国际标准分类号 | 31.240 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C402 专用仪器仪表制造 |
| 发布日期 | 2025年03月12日 |
| 实施日期 | 2025年03月27日 |
| 起草人 | 单娜、钟涛、严黎明、罗龙、杨冰、吴生佳、蔡衡、孔熙、李振、张静涵 |
| 起草单位 | 武汉驿天诺科技有限公司、湖北九峰山实验室、武汉武粤光电技术有限公司 |
| 范围 | 本文件规定了晶圆测试探针台的术语和定义、参数、一般要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 |
| 主要技术内容 | 本文件适用于晶圆测试探针台（以下简称“探针台”）的生产和检验。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国商品学会 |
| 登记证号 | 51100000500017722H | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 理论研究、学术交流、业务培训、书刊编辑、咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈冠 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市海淀区175号中国人民大学资料楼 | 邮编 : 100086 |
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