T_UNP 734—2025 半导体温差发电(TEG)器件测试方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/UNP 734—2025 |
| 中文标题 | 半导体温差发电(TEG)器件测试方法 |
| 英文标题 | Testing method for thermoelectric generator (TEG) devices |
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
| 发布日期 | 2025年06月18日 |
| 实施日期 | 2025年06月18日 |
| 起草人 | 胡晓明、樊希安、陈树山、阚宗祥、陈建民、陈磊、符国庆、占荣全、胡浩、张帆 |
| 起草单位 | 湖北赛格瑞新能源科技有限公司、香河东方电子有限公司、河南鸿昌电子有限公司、浙江万谷半导体有限公司、武汉科技大学 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本标准针对半导体温差发电器件可靠性测试，涵盖机械应力、气候环境和使用寿命试验。机械应力试验包含机械冲击、振动、抗剪切等，考核器件结构强度；气候环境试验有高温、温度冲击等，评估环境适应能力；使用寿命试验基于阿伦尼乌斯方程推算器件寿命。每项试验均明确原理、设备、步骤及结果计算评估方式，适用于该类器件可靠性测试，确保其在多种条件下性能稳定。 This standard focuses on the reliability testing of semiconductor thermoelectric generator (TEG) devices, covering mechanical stress tests, climatic environment tests, and service life tests. Mechanical stress tests include mechanical shock, vibration, and shear resistance to assess the device's structural strength. Climatic environment tests involve high temperature, thermal shock, etc., to evaluate environmental adaptability. The service life test estimates the device's lifespan based on the Arrhenius equation. Each test specifies the principle, equipment, procedures, and result calculation/evaluation methods, suitable for reliability testing of such devices to ensure stable performance under various conditions. |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国联合国采购促进会 | ||
| 登记证号 | 51100000500020331X | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 政策研究、国际合作、业务培训、展览展示、信息交流、咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 王栩男 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市西城区阜外大街乙22号 | 邮编 : 100007 | |