T_UNP 743—2025 半导体制冷器制冷性能测试方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/UNP 743—2025 |
| 中文标题 | 半导体制冷器制冷性能测试方法 |
| 英文标题 | Testing method for refrigeration performance of semiconductor refrigerator |
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
| 发布日期 | 2025年06月18日 |
| 实施日期 | 2025年06月18日 |
| 起草人 | 李鹏、陈建民、张文涛、郑雅倩、欧来万、李文鹏 |
| 起草单位 | 北京通达中苑标准技术服务有限公司、河南鸿昌电子有限公司、北京嘉鼎天铭信息服务有限公司、北京华宏中创信息咨询有限公司、许昌兴华汽配制造有限公司 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本标准规定了半导体制冷器制冷性能测试的条件与设备、步骤、数据处理、结果判定及记录报告等内容，适用于该类设备制冷性能测试。旨在规范测试流程，助力企业参与国际贸易，提升产品国际竞争力，确保测试结果准确可靠，为行业提供统一技术依据。This standard specifies the conditions, equipment, procedures, data processing, result evaluation, and recording reports for the refrigeration performance testing of semiconductor coolers, and is applicable to the refrigeration performance testing of such devices. It aims to standardize the testing process, assist enterprises in participating in international trade, enhance the international competitiveness of products, ensure the accuracy and reliability of test results, and provide a unified technical basis for the industry. |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国联合国采购促进会 | ||
| 登记证号 | 51100000500020331X | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 政策研究、国际合作、业务培训、展览展示、信息交流、咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 王栩男 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市西城区阜外大街乙22号 | 邮编 : 100007 | |