T_BEA 43009—2025 非相干扩频测控基带测试设备测试方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/BEA 43009—2025 |
| 中文标题 | 非相干扩频测控基带测试设备测试方法 |
| 英文标题 | Test Method for Non-Coherent Spread Spectrum TT&C Baseband Test Equipment |
| 国际标准分类号 | 17.020 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | M745 质检技术服务 |
| 发布日期 | 2025年11月10日 |
| 实施日期 | 2025年11月14日 |
| 起草人 | 李爽玉、徐圣法、 李千惠、李田甜、邢景仪、贾冬宇、刘禹岑、郑日新、郭会平 |
| 起草单位 | 北京东方计量测试研究所、北京信息科技大学、北京理工大学 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 范围：本标准规定了非相干扩频测控基带测试设备的关键性能测试方法，适用于该类设备在研发、生产及验收过程中的性能验证。标准聚焦输出功率、输入频率、载波抑制、杂波抑制、二次谐波等核心电性能指标，明确各项指标的测试条件、测试流程及判定准则，为设备功能性能的准确、可重复验证提供标准化技术依据。 主要技术内容： 1.测试条件与准备：规定测试环境要求、设备连接方式、测试参数初始化等基础条件，确保测试环境与实际应用场景的一致性。 2.输出功率测试：明确功率测量方法、参考点定义、测量步骤及合格范围，验证设备信号输出的强度符合设计要求。 3.输入频率测试：规定频率校准方法、频率偏差测量步骤，确保设备对输入信号频率的准确识别与处理能力。 4.载波抑制测试：定义载波抑制为载波信号功率相对于扩频基带信号功率的衰减值，明确测试方法、计算方式及合格阈值，验证设备对无用载波分量的抑制能力。 5.杂波抑制测试：针对带外杂散信号，规定杂波抑制的测量频段、杂散功率测量方法及抑制阈值，评估设备抑制带外无用信号的能力。 6.二次谐波抑制度测试：明确二次谐波的测量方法、抑制要求及测试步骤，验证设备非线性失真控制水平。 通过上述技术内容，标准系统规范了非相干扩频测控基带测试设备的关键性能验证方法，解决当前测试方法分散、指标模糊的问题，支撑设备研发与工程应用。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
| 团体详细信息 | |||
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| 团体名称 | 北京电子仪器行业协会 | ||
| 登记证号 | 51110000500304262P | 发证机关 | 北京市民政局 |
| 业务范围 | 开展行业协调，信息交流，人才培训，咨询服务，科技开发 | ||
| 法定代表人/负责人 | 谷玉海 | ||
| 依托单位名称 | 北京信息科技大学 | ||
| 通讯地址 | 北京市海淀区永丰路 | 邮编 : 100190 | |