T_CIET 1679—2025 单分子定位超分辨显微成像技术规范-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CIET 1679—2025
中文标题  单分子定位超分辨显微成像技术规范
英文标题  
国际标准分类号  37.020
中国标准分类号  
国民经济分类  C404 光学仪器及眼镜制造
发布日期  2025年08月21日
实施日期  2025年08月21日
起草人  潘雷霆、李栋、王文娟、陈良怡、王宏达、胡芬、陆怀德、刘岩、吴永利、汪贤峰、贾国蕊、徐敬明、包瑾、余丽娜。
起草单位  纳微成像(天津)生物科技有限公司、北京纳析光电科技有限公司、清华大学、北京大学、广州微视光学科技有限公司、宁波纳微成像生物科技有限公司、通标中研标准化技术研究院(北京)有限公司、途邦认证有限公司。
范围  本文件规定了单分子定位超分辨显微成像技术的技术要求、检测方法、校准与维护、数据处理与分析以及报告等内容。 本文件适用于基于单分子定位原理的超分辨显微成像系统的设计、生产、检验和使用。
主要技术内容  本文件规定了单分子定位超分辨显微成像技术的技术要求、检测方法、校准与维护、数据处理与分析以及报告等内容。
本文件适用于基于单分子定位原理的超分辨显微成像系统的设计、生产、检验和使用。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国国际经济技术合作促进会
登记证号51100000500012876L发证机关中华人民共和国民政部
业务范围国际合作 理论研究 技术交流 书刊编辑 业务培训 咨询服务
法定代表人/负责人赵林
依托单位名称
通讯地址北京市通州区经海五路1号院45号楼1层5-101邮编 : 101111

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