T_CIET 1761—2025 半导体封装用玻璃基板材料要求及测试方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CIET 1761—2025
中文标题  半导体封装用玻璃基板材料要求及测试方法
英文标题  
国际标准分类号  25.160.01 焊接、钎焊和低温焊综合
中国标准分类号  
国民经济分类  C356 电子和电工机械专用设备制造
发布日期  2025年09月01日
实施日期  2025年09月01日
起草人  杨金发、赵红梅、符永利、甄真、李辉、于洪宇、林挺宇、王荀梓、余荣灿、赵斌辉、黄佳旭、顾安、周洪斌、刘兆温、赵超、刘岩、吴永利、汪贤峰、贾国蕊、徐敬铭、包瑾、裴景朵
起草单位  凯盛科技股份有限公司、四川虹科创新科技有限公司、深圳市泰科思特精密工业有限公司、天津巽霖科技有限公司、湖北戈碧迦光电科技股份有限公司、深圳职业技术大学、广东佛智芯微电子技术研究有限公司、通标中研标准化技术研究院(北京)有限公司、途邦认证有限公司
范围  本文件规定了半导体封装用玻璃基板材料的基本要求、材料要求和测试方法。 本文件适用于半导体封装用玻璃基板的生产、检验和使用。
主要技术内容  本文件规定了半导体封装用玻璃基板材料的基本要求、材料要求和测试方法。
本文件适用于半导体封装用玻璃基板的生产、检验和使用。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国国际经济技术合作促进会
登记证号51100000500012876L发证机关中华人民共和国民政部
业务范围国际合作 理论研究 技术交流 书刊编辑 业务培训 咨询服务
法定代表人/负责人赵林
依托单位名称
通讯地址北京市通州区经海五路1号院45号楼1层5-101邮编 : 101111

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