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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CMA CC206—2025 |
| 中文标题 | X射线数字平板探测器校准方法 |
| 英文标题 | Calibration Method for X-ray Digital Flat Panel Detector |
| 国际标准分类号 | 17.240 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | M745 质检技术服务 |
| 发布日期 | 2025年09月22日 |
| 实施日期 | 2025年09月23日 |
| 起草人 | 严杰文、张冠、裴煜鹏、郝龙虎、程晓文、谢嘉亮、祁琳、马鹏谋、丁志、周静、王鄂豫。 |
| 起草单位 | 广州计量检测技术研究院、北京京东方光电技术有限公司、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、华南理工大学和深圳市卓茂科技有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了X射线数字平板探测器的校准参数、校准项目和校准方法等。
本文件适用于X射线数字平板探测器的校准，包括但不限于直接转换型（如：非晶硒(a-Se)类）和间接转换型（如：非晶硅（a-Si）类）探测器的校准。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国计量协会 |
| 登记证号 | 社证字第3498号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 行业管理 信息咨询 技术交流 教育培训 国际合作 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 王晓冬 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市朝阳区农展馆北路农业农村部北办公区22号楼5层 | 邮编 : 100125 |
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