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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CSA 100—2025 |
| 中文标题 | Micro-LED芯片光电性能测试方法 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
| 发布日期 | 2025年09月28日 |
| 实施日期 | 2025年09月28日 |
| 起草人 | 周雄图、林怡彬、黄凯、陈志忠、黄少华、徐杰、张永爱、吴朝兴、孙昕、朱广敏、黄涛、刘英斌、朱昕、吕天刚、牛宏强、刘强、熊敬康、刘泽强、刘志强、徐圆圆。 |
| 起草单位 | 福州大学、闽都创新实验室、中关村半导体照明工程研发及产业联盟、厦门大学、北京大学、厦门三安光电有限公司、中关村半导体照明联合创新重点实验室（宽禁带半导体超越照明材料与技术全国重点实验室）、京东方华灿光电（浙江）有限公司、晶能光电股份有限公司、南昌中微半导体设备有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、宁波升谱光电股份有限公司、北京大学东莞光电研究院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院、中国科学院半导体研究所、广州市鸿利显示电子有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | T/CSA 100—2025《Micro-LED芯片光电性能测试方法》描述了单色Micro-LED芯片的光电性能测试方法。文件适用于发光台面(mesa)的长边边长（或直径）在1 μm～50 μm范围内的单色Micro-LED芯片的光电性能测试评估。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟） |
| 登记证号 | 0011820 | 发证机关 | 北京市民政局 |
| 业务范围 | 组织半导体照明技术研发及推广应用；开展技术咨询、专利服务、专业培训和信息服务；制定技术标准，开展检测、认证；承接政府委托；开展国际交流与合作。 |
| 法定代表人/负责人 | 阮军 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市海淀区清华东路甲35号中科院半导体所5号楼5层 | 邮编 : 100083 |
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