T_CSCP 0059_3—2025 微机电系统(MEMS)材料腐蚀芯片与传感器 第3部分:测试方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CSCP 0059.3—2025
中文标题  微机电系统(MEMS)材料腐蚀芯片与传感器 第3部分:测试方法
英文标题  Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS) material corrosion chip and sensor—Part 3: Test method
国际标准分类号  77.060
中国标准分类号  
国民经济分类  C397 电子器件制造
发布日期  2025年09月01日
实施日期  2025年10月01日
起草人  卢壹梁、张强、杨小佳、王晓芳、李晓刚、程学群、韩钰、黄增浩、陈云、郝文魁、孙雷、李清、徐迪、杨丙坤、黄路遥、朱仁政、杨国威、张达威、刘超、杨体绍、杨吉可、杜翠薇、刘智勇、张博威、骆鸿、马宏驰
起草单位  中国电力科学研究院有限公司、北京科技大学、南方电网科学研究院有限公司、广州天韵达新材料科技有限公司、北京材料基因工程高精尖创新中心、广州市南沙区贝科耐蚀新材料研究院、中国铁道科学研究院集团有限公司
范围  本文件规定了MEMS材料腐蚀芯片及传感器测试项目及方法、测试条件、性能评估指标及判定准则。 本文件适用于MEMS材料腐蚀芯片及传感器的测试。
主要技术内容  标准主要包括金属、半导体、聚合物等不同材质制成的 MEMS 材料腐蚀芯片及传感器的通用性测试。旨在为该类产品提供统一的性能测试方法和准则,确保其在工业生产过程监测、环境腐蚀性检测等不同应用领域中,具备可靠的检测性能、准确的测量精度以及稳定的工作能力,从而为设备维护、安全运行以及科学研究提供精准的数据支撑。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国腐蚀与防护学会
登记证号51100000500005510Q发证机关中华人民共和国民政部
业务范围学术交流 专业展览 继续教育 成果鉴定 科学普及 咨询服务
法定代表人/负责人李晓刚
依托单位名称北京科技大学
通讯地址北京市学院路30号邮编 : 100083

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