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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/EDASQUARE 027—2025 |
| 中文标题 | ATE测试数据格式 |
| 英文标题 | Standard of ATE test data format |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
| 发布日期 | 2025年09月12日 |
| 实施日期 | 2025年09月12日 |
| 起草人 | 陈岚、赵永林、贺铭、陆仁杰、刘培彦、陈恩、陈旭波、刘晓冰、孔鲁宁、秦兆慧、尹敏、唐华兴、章英杰、许文政。 |
| 起草单位 | 中国科学院微电子研究所、全芯智造技术有限公司、杭州广立微电子股份有限公司、上海亿瑞芯电子科技有限公司、上海合见工业软件集团有限公司、上海概伦电子股份有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了产品芯片在自动测试设备(Auto Test Equipment,简称ATE)上进行电性测试时所输出的文件的格式。 本文件适用于产品芯片如存储器芯片、逻辑芯片、模拟芯片和MEMS等芯片的CP/FT/Fail Cycle log测试场景。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 上海电子设计自动化发展促进会 |
| 登记证号 | 51310000MJ4905543H | 发证机关 | 上海市民政局 |
| 业务范围 | 开展电子设计自动化及相关领域的调查研究,技术创新,编辑出版,标准制定,测试评价,培训与交流,展览展示,承接相关委托事项。(涉及行政许可的,凭许可证开展业务) |
| 法定代表人/负责人 | 郑云升 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 上海市浦东新区龙东大道3000号1幢裙房217-08室 | 邮编 : 201203 |
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