T_EDASQUARE 027—2025 ATE测试数据格式-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/EDASQUARE 027—2025
中文标题  ATE测试数据格式
英文标题  Standard of ATE test data format
国际标准分类号  31.200
中国标准分类号  
国民经济分类  I6520 集成电路设计
发布日期  2025年09月12日
实施日期  2025年09月12日
起草人  陈岚、赵永林、贺铭、陆仁杰、刘培彦、陈恩、陈旭波、刘晓冰、孔鲁宁、秦兆慧、尹敏、唐华兴、章英杰、许文政。
起草单位  中国科学院微电子研究所、全芯智造技术有限公司、杭州广立微电子股份有限公司、上海亿瑞芯电子科技有限公司、上海合见工业软件集团有限公司、上海概伦电子股份有限公司。
范围  
主要技术内容  本文件规定了产品芯片在自动测试设备(Auto Test Equipment,简称ATE)上进行电性测试时所输出的文件的格式。
本文件适用于产品芯片如存储器芯片、逻辑芯片、模拟芯片和MEMS等芯片的CP/FT/Fail Cycle log测试场景。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称上海电子设计自动化发展促进会
登记证号51310000MJ4905543H发证机关上海市民政局
业务范围开展电子设计自动化及相关领域的调查研究,技术创新,编辑出版,标准制定,测试评价,培训与交流,展览展示,承接相关委托事项。(涉及行政许可的,凭许可证开展业务)
法定代表人/负责人郑云升
依托单位名称
通讯地址上海市浦东新区龙东大道3000号1幢裙房217-08室邮编 : 201203

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