T_HNNMIA 3—2025 半导体封装用键合丝的挺度试验方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/HNNMIA 3—2025
中文标题  半导体封装用键合丝的挺度试验方法
英文标题  
国际标准分类号  25-010
中国标准分类号  
国民经济分类  C334 金属丝绳及其制品制造
发布日期  2025年03月25日
实施日期  2025年03月25日
起草人  龙伟民、钟素娟、马帅杰、郭鹏、李元、王梦超、郭军华、董显、李培艳、于 新泉、黄承志、张子晗、杨洋
起草单位  中国机械总院集团郑州机械研究所有限公司、中国机械总院集团哈尔滨焊接研究 所有限公司、河南省科学院、河南理工大学、郑州兴航科技有限公司
范围  
主要技术内容  本文件描述了半导体封装用键合丝挺度试验的原理、试验设备、试验要求、试验步骤、试验数据处
理、精密度及试验报告等内容。
本文件适用于半导体分立器件和集成电路封装用金、银、铜及其合金键合丝挺度的试验。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称河南省有色金属行业协会
登记证号51410000514559549B发证机关河南省民政厅
业务范围学术交流、业务培训、行业协调、咨询服务
法定代表人/负责人李如西
依托单位名称
通讯地址河南省郑州市农业路东22号B座8楼邮编 : 450053

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